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SPECTROLAB S直讀光譜儀

  • 更新時(shí)間:2020-10-09
  • 瀏覽次數(shù):1322

SPECTROLAB S直讀光譜儀
。今天,斯派克公司完美引入CMOS探測(cè)器技術(shù),*改變了高*電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來。在所有同類分析儀中,SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象,元素檢測(cè)限低*限,同時(shí)她也可以提供很長的正常運(yùn)行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。

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品牌其他品牌儀器種類臺(tái)式
激發(fā)方式火花價(jià)格區(qū)間面議
檢測(cè)器類其他應(yīng)用領(lǐng)域電子,交通,冶金,航天,汽車

SPECTROLAB S直讀光譜儀

作為電弧/火花創(chuàng)新技術(shù)的**者,40多年來,SPECTRO全心投入開發(fā)出**的發(fā)射光譜儀。今天,斯派克公司完美引入CMOS探測(cè)器技術(shù),*改變了高*電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來。在所有同類分析儀中,SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象,元素檢測(cè)限低*限,同時(shí)她也可以提供很長的正常運(yùn)行時(shí)間和非常具有前瞻性的靈活性。

SPECTROLAB S 擁有**個(gè)基于CMOS的探測(cè)器的記錄系統(tǒng),該系統(tǒng)非常適合于高*金屬分析。從微量元素到多基體應(yīng)用,它提供了非常快速、高度準(zhǔn)確、異常靈活的技術(shù)選擇。樣品的分析速度是儀器良好性的重要標(biāo)志,SPECTROLAB S的推出*了金屬分析市場(chǎng)對(duì)速度的需求。例如:當(dāng)檢測(cè)低合金鋼時(shí),它可以在20秒或更短的時(shí)間內(nèi)提供高準(zhǔn)確度的測(cè)量值!從技術(shù)指標(biāo)和實(shí)際使用效果看,SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠*選的、高性能的光譜儀。對(duì)于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體等制造商來說,她給出的解決方案同樣出色。

關(guān)鍵特性:

?20秒內(nèi)獲得高準(zhǔn)確度的結(jié)果(例如:低合金鋼)
?定期維護(hù)的工作量(火花臺(tái)清洗)減少8倍
?元素在低合金鋼中平均檢測(cè)限改善2倍,元素在純鋁中的平均檢測(cè)限改善5倍
?儀器的占地面積減少27%
?單一標(biāo)樣實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項(xiàng)每天可節(jié)省30分鐘工作時(shí)間

 德國斯派克 SPECTROLAB S直讀光譜儀

1、獨(dú)立雙光室,確保所有分析譜線都獲得**分辨率。 

SPECTROLAB S 配備兩套完整的光學(xué)系統(tǒng)。一個(gè)光室準(zhǔn)確測(cè)量波長從120到240納米(nm);另一個(gè)光室,波長范圍從210到800納米(nm)。 兩個(gè)光室都采用良好的CMOS檢測(cè)器,具備恒溫裝置和壓力補(bǔ)償功能 

2、等離子發(fā)生器數(shù)字光源和點(diǎn)火板 

可靠的新型高能LDMOS等離子發(fā)生器光源,為SPECTROLAB S 輸出非常穩(wěn)定的火花放電,頻率*高1000 Hz。結(jié)果:*短的測(cè)量時(shí)間(例如:分析低合金鋼小于 20 秒)。該系統(tǒng)還允許特定應(yīng)用的火花參數(shù)設(shè)置,以優(yōu)化分析性能。 

3、精密氬氣控制系統(tǒng) 

SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據(jù)分析程序精密設(shè)置氬氣流量。節(jié)約了氬氣消耗。氬氣閥體直接耦合到火花臺(tái),無需管道連接。避免漏氣。 

4、火花臺(tái)清理間隔大大延長 

堅(jiān)固的陶瓷內(nèi)芯避免積塵粘附。流暢的氣路設(shè)計(jì)確保了很少的粉塵殘留(使得清理間隔時(shí)間延長了8倍);對(duì)于大樣品量輸出的全自動(dòng)光譜儀系統(tǒng)尤為重要。 

5、快速讀出系統(tǒng) 

斯派克的GigE創(chuàng)新讀出系統(tǒng)確保海量數(shù)據(jù)的快速處理,從而支持**的儀器性能表現(xiàn)。實(shí)現(xiàn)了*的全光譜范圍譜圖記錄。 

6、低檢出限。

SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術(shù),在關(guān)鍵元素的檢測(cè)限方面,超越光電倍增管技術(shù)的性能。通過配置**參比通道,工作曲線可以很大程度獲得優(yōu)化。可以快速定量分析ppm量級(jí)的高純金屬或合金中的痕量元素。

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