Talysurf CCI 6000非接觸式三維輪廓測(cè)量?jī)x

• 更新時(shí)間：2020-12-11
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Talysurf CCI 6000非接觸式三維輪廓測(cè)量?jī)x
Talysurf CCI 6000 適用于高精度三維表面測(cè)量分析。一種在垂直方向全程內(nèi)分辨率為0.1 Å，測(cè)量噪音低于0.5 Å的高水準(zhǔn)的非接觸式三維表面測(cè)量?jī)x。精密三維表面輪廓光學(xué)系列測(cè)量?jī)x采用相干相關(guān)技術(shù)進(jìn)行非接觸式表面測(cè)量。此類儀器能在僅10秒內(nèi)完成測(cè)量數(shù)據(jù)點(diǎn)超過百萬(wàn)的表面測(cè)量，分辨率高達(dá)0.01 nm （0.1 Å）。

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Talysurf CCI 6000非接觸式三維輪廓測(cè)量?jī)x

Talysurf CCI 6000 適用于高精度三維表面測(cè)量分析。一種在垂直方向全程內(nèi)分辨率為0.1 Å，測(cè)量噪音低于0.5 Å的高水準(zhǔn)的非接觸式三維表面測(cè)量?jī)x。精密三維表面輪廓光學(xué)系列測(cè)量?jī)x采用相干相關(guān)技術(shù)進(jìn)行非接觸式表面測(cè)量。此類儀器能在僅10秒內(nèi)完成測(cè)量數(shù)據(jù)點(diǎn)超過百萬(wàn)的表面測(cè)量，分辨率高達(dá)0.01 nm (0.1 Å)。

Talysurf CCI 6000 干涉儀是一種良好的高分辨率的光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x。像素達(dá)100萬(wàn)的傳感器作為系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置。該系統(tǒng)可提供測(cè)量重復(fù)性和很高的表面細(xì)節(jié)。該系統(tǒng)專為需要進(jìn)行高分辨率測(cè)量的（如亞微米級(jí)與亞納米級(jí)的z軸分辨率）各種不同類型的表面而設(shè)計(jì)的。它非常適合應(yīng)用于許多不同的領(lǐng)域包括：半導(dǎo)體制造業(yè)和微機(jī)電系統(tǒng)，以及良好的科學(xué)研究與光學(xué)業(yè)。

篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理英國(guó)泰勒粗糙度儀、輪廓儀、粗糙度輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等精密測(cè)量?jī)x器。英國(guó)泰勒霍普森Taylor Hobson隸屬于美國(guó)阿美特克AMETEK集團(tuán)，是不斷創(chuàng)新的精密計(jì)量領(lǐng)域的世界***，杰出的聲譽(yù)源自100多年的計(jì)量設(shè)計(jì)和精密制造工程經(jīng)驗(yàn)。代表著表面粗糙度及形狀計(jì)量學(xué)領(lǐng)域的高精度等級(jí)的計(jì)量水平，并為眾多應(yīng)用領(lǐng)域提供接觸和非接觸測(cè)量解決方案。英國(guó)泰勒擁有大量以發(fā)明**為代表的知識(shí)產(chǎn)權(quán)，同時(shí)仍保有大規(guī)模的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和高額資金投入。并且不斷將科研成果應(yīng)用于新產(chǎn)品的開發(fā)和改進(jìn)，使其更加完善地服務(wù)于用戶。

技術(shù)特點(diǎn)：

      。垂直分辨率高達(dá)0.1 Å (0.01 nm) 
      。測(cè)量噪音（實(shí)際測(cè)量數(shù)據(jù)）低至0.5 Å (0.05 nm) 
      。標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)測(cè)量點(diǎn)為百萬(wàn), 系統(tǒng)數(shù)據(jù)測(cè)量點(diǎn)可多至四百萬(wàn)

圖1：Talysurf CCI 6000非接觸式三維輪廓測(cè)量?jī)x

Talymap 3D分析軟件：

業(yè)界**的軟件使三維表面測(cè)量變得易于訪問。自動(dòng)分析程序只需按一下按鈕即可進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)量分析。可以自動(dòng)識(shí)別，測(cè)量和分類由直徑，面積或體積定義的表面特征。數(shù)據(jù)操作工具由于可以對(duì)軟件中的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行軟件調(diào)整和對(duì)齊，因此大大簡(jiǎn)化了組件的準(zhǔn)備和準(zhǔn)備工作。

      。高分辨率變焦
      。調(diào)平和旋轉(zhuǎn)
      。倒置和鏡像
      。消除形式和缺陷
      。輪廓提取
 

微觀粗糙度，波紋度，進(jìn)給速度和深度

可以在超級(jí)拋光的光學(xué)組件上測(cè)量到亞埃級(jí)的表面紋理（RMS）